Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel:

Verlag: Berlin etc.: Springer, 1986
Sprache: Deutsch
Gebraucht Zustand: Gut

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